X熒光光譜儀在測(cè)試過(guò)程中也會(huì)有很多干擾譜線(xiàn)，那么我們?cè)撊绾蜗?？今天和?chuàng)想小編一起來(lái)了解下在X熒光光譜儀中，干擾譜線(xiàn)來(lái)源及如何消除吧！
X射線(xiàn)管：干擾線(xiàn)可能來(lái)自靶材本身，包括靶元素及有關(guān)雜質(zhì)的發(fā)射線(xiàn)。此外，長(zhǎng)期使用中，燈絲及其他有關(guān)構(gòu)件的升華噴濺或其他原因，可能導(dǎo)致靶面或管窗的玷污，從而產(chǎn)生干擾線(xiàn)。同時(shí)，X射線(xiàn)管構(gòu)件受激發(fā)或陰極電子束的不適當(dāng)聚焦，也可能產(chǎn)生干擾線(xiàn)。
樣品：樣品中其他元素發(fā)射的干擾線(xiàn)，尤其是強(qiáng)度較大的圖表線(xiàn)，可能會(huì)對(duì)分析線(xiàn)或參比線(xiàn)造成干擾。
為了消除這些干擾譜線(xiàn)，操作人員可以采取以下策略：
激發(fā)源：針對(duì)X射線(xiàn)管，可以更換適當(dāng)靶材的X射線(xiàn)管，選擇能夠抑制干擾譜線(xiàn)出現(xiàn)的管壓。同時(shí)，可以將樣品屏蔽到較小的區(qū)域，以減少原級(jí)標(biāo)識(shí)光譜的散射。如果這些方法還不能有效消除干擾，可以使用濾光片來(lái)消除干擾線(xiàn)。
創(chuàng)想臺(tái)式X熒光光譜儀
分析晶體與光路：對(duì)于X射線(xiàn)分光計(jì)，可以選擇適當(dāng)?shù)姆治鼍w，以消除存在于樣品中干擾元素的偶數(shù)級(jí)反射線(xiàn)對(duì)分析線(xiàn)或參比線(xiàn)的干擾。此外，選擇分辨率高的分析晶體和準(zhǔn)直器，也可以消除或減輕某些譜線(xiàn)的干擾。
制備校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)：針對(duì)元素間干擾或基體效應(yīng)，可以通過(guò)制備一系列校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)來(lái)彌補(bǔ)這些影響。這些曲線(xiàn)需要覆蓋待分析的濃度范圍，并需要精心設(shè)計(jì)的參考資料。
請(qǐng)注意，以上只是消除干擾譜線(xiàn)的一些基本方法，具體的消除策略需要根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行調(diào)整和優(yōu)化。在進(jìn)行X熒光光譜分析時(shí)，建議與專(zhuān)業(yè)的技術(shù)人員或?qū)嶒?yàn)室進(jìn)行密切合作，以確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。